2-й разряд Характеристика работ. Юстировка радиодеталей до номинала методом шлифования (грубое шлифование) токопроводящего слоя. Определение величины сопротивления (резисторы) и емкости (конденсаторы) по показаниям контрольно - измерительных приборов. Правка выводов после шлифования. Должен знать: наименование и назначение важнейших частей и принцип действия станков для подгонки номиналов радиодеталей; назначение и условия применения контрольно - измерительных инструментов и приборов; методику получения заданного номинала в зависимости от исходных величин омического сопротивления, емкости; основные свойства керамики и токопроводящих слоев. Примеры работ 1. Конденсаторы керамические - подгонка емкости на станке до заданного номинала с отклонением величины емкости +/- 5 - 10%. 2. Пакеты или заготовки конденсаторов различных типов с серебросодержащими электродами - подгонка емкости. 3. Пьезоэлементы толщиной 1 мм - подгонка с использованием подгоночных машин; измерение частоты. 4. Резисторы постоянные и переменные - подгонка на станках до заданного номинала с отклонениями +/- 10 - 20%. 3-й разряд Характеристика работ. Юстировка сопротивлений до номинала с точностью +/- 5 - 2% с помощью луча оптического квантового генератора. Подгонка в заданный номинал сложных малогабаритных резисторов с лужением и пайкой концов провода диаметром 0,02 - 0,03 мм и прецизионных конденсаторов. Подгонка номинала переменных объемных резисторов, керамических конденсаторов постоянной емкости методом шлифования (тонкое шлифование) и полирования. Подбор режимов шлифования и полирования. Шлифовка ребер микромодулей и доведение их до заданных размеров. Установка прибора на заданный номинал и измерение величины сопротивления резисторов и емкости конденсаторов. Наладка станков автоматов и полуавтоматов для шлифования. Определение качества шлифованной поверхности. Должен знать: устройство и правила настройки станков для подгонки номиналов радиодеталей; устройство специальных приспособлений, установок юстировки сопротивлений, инструментов и контрольно - измерительной аппаратуры; правила установки деталей и инструмента; способы шлифования; правила определения допусков на заданный номинал; основные свойства материалов радиодеталей и токопроводящих слоев; основы электротехники в пределах выполняемых работ. Примеры работ 1. Конденсаторы керамические, прецизионные - подгонка емкости в заданный номинал. 2. Металлические валы для непроволочных резисторов - шлифование, доводка. 3. Микромодули - шлифование торцов и доведение их до заданных размеров. 4. Микросборки, залитые компаундом, - шлифование граней и доведение их до заданных размеров. 5. Пьезоэлементы толщиной 1 мм - ручная и машинная подгонка, 3 измерение частоты с точностью 1 x 10 . 6. Резисторы - подгонка сопротивлений до номинала с точностью +/- 5 - 2%. 4-й разряд Характеристика работ. Юстировка сопротивлений до номинала с точностью +/- 2 - 1% с помощью луча оптического квантового генератора. Подгонка в заданный номинал точных малогабаритных радиодеталей со сваркой концов микропровода толщиной до 12 микрон и точностью подгонки до 0,005% под микроскопом с использованием измерительных приборов со степенью точности 0,005. Настройка микроскопа и измерительных приборов. Проверка величины сопротивления резистора и емкости конденсатора. Настройка и юстировка электронных приборов средней сложности в соответствии с техническими условиями. Электрическая проверка электронно - измерительных систем масс - спектрометров с использованием контрольно - измерительных приборов. Определение правильности сборки анализатора и его работоспособности в условиях высокого вакуума. Должен знать: устройство, принцип действия, электрические схемы и режимы работы применяемого оборудования и приборов; последовательность выполнения технологического процесса подгонки номинала радиодеталей; устройство и способы проверки на точность обслуживаемых приборов, масс - спектрометров и течеискателей; принципиальные электрические и вакуумные схемы и схемы соединений; назначение, принцип работы источников ионов с электронной бомбардировкой и приемных систем; основы разделения ионов в масс - анализаторе; назначение и принцип действия электронно - измерительных приборов, используемых в процессе юстировки и настройки; процессы сорбции и десорбции на поверхностях, находящихся под высоким вакуумом; основные законы движения заряженных частиц в условиях электрического и магнитного полей; технологическую последовательность юстировки масс - спектрометров; определение допустимых величин сопротивлений после подгонки; основные законы электротехники в пределах выполняемой работы. Примеры работ 1. Масс - спектрометры однополюсные - юстировка, проверка, настройка. 2. Микросхемы - подгонка сопротивлений с точностью +/- 2 - 1%. 3. Резисторы - подгонка сопротивлений до номинала с точностью +/- 2 - 1%. 4. Течеискатели масс - спектрометрические - юстировка, настройка, проверка. 5-й разряд Характеристика работ. Юстировка и настройка электронных приборов и электронографов отечественного производства или зарубежных моделей. Юстировка резисторов сложных гибридных микросхем с точностью +/- 1 - 0,5% до номинала или соотношений двух и более резисторов с точностью +/- 5% и менее с помощью оптического квантового генератора. Электрическая проверка аналитической части масс - спектрометров. Уменьшение аберраций и дискриминационных эффектов. Ввод газов и паров жидкости в анализатор. Подготовка твердой пробы для анализа. Определение неисправностей в настраиваемых приборах и их устранение. Составление макетных схем для проверки управления работой узлов масс - спектрометров. Должен знать: устройство, способы проверки на точность, принципиальные электронные, электрические и вакуумные схемы обслуживаемых приборов, методы определения разрешающей способности электронных микроскопов; методы изготовления диафрагм; способы получения эталонных электронограмм и определение константы прибора; правила перенастройки микроскопов в различные режимы (дифракция, микродифракция, отражение и т.д.); устройство электроизмерительных приборов и приспособлений, применяемых при юстировке и настройке приборов; принцип установления режимов работы систем ионообразования в процессе юстировки; влияние рассеянных полей на фокусировку заряженных частиц; основные правила по приготовлению объектов. Требуется среднее профессиональное образование. Примеры работ 1. Масс - спектрометры времяпролетные, промышленного контроля и хромато - эффузиомасс - спектрометры - настройка и юстировка. 2. Микроскоп УЭМ-6Т электронный - настройка и юстировка. 3. Микроскоп EF-4 (Германия) электронный - перестройка из режима "на просвет" в режим дифракции. 4. Микроскопы электронные просвечивающие и растровые типа РЭМП-4 - перестройка ЭОС в режим дифракции, устранение одного, двух видов аберраций; работы в режимах "вторичные или отраженные электроны", в режиме микроанализа. 5. Рентгеновский электронно - оптический преобразователь - юстировка плоскостная и центровка. 6-й разряд Характеристика работ. Юстировка и настройка масс - спектрометров, а также электронно - вычислительных приставок и масс - спектрометрических информационно - управляемых систем в соответствии с техническими инструкциями, программами лабораторий госнадзора, специальными инструкциями. Настройка и юстировка различных типов электронных микроскопов и электронографов отечественного и зарубежного производства. Юстировка и настройка опытных образцов электронных микроскопов, электронографов, масс - спектрометров и участие в их испытаниях. Разработка методик абсолютных и относительных измерений на масс - спектральных приборах. Работа по стыковке масс - спектральных приборов с комплексами электронно - вычислительных машин (ЭВМ), ввод программы и обеспечение режимов управления ЭВМ масс - спектрометрическими приборами. Должен знать: конструкцию, способы и правила проверки на точность масс - спектрометров и различных типов микроскопов, их электронные и электрические схемы; все виды аберраций и их устранение; способы, правила и последовательность юстировки серийных масс - спектрометров; принципы установления режимов работы систем новообразования, развертки спектромасс, детектирования заряженных частиц; источники питания линз и пушки, их параметры и настройку; критерии предельной разрешающей способности электронного микроскопа; методы выявления неисправностей в настраиваемых приборах и способы их устранения. Требуется среднее профессиональное образование. Примеры работ 1. Масс - спектрометры вторичной ионной эмиссии, квадрупольные, лазерные, одинарной и двойной фокусировки - настройка и юстировка. 2. Микроанализаторы ХА-ЗА растровые (Япония) - настройка и юстировка. 3. Микроскопы электронные просвечивающие и растровые типа РЭМП-2, РЗИП-4 - настройка, проверка, юстировка, устранение всех видов аберраций; перестройка ЭОС в различные виды работ (отражение, дифракция, микродифракция и т.д.). 4. Микроскопы электронные - замена электронных ламп и опорных батарей в блоке стабилизатора высокого напряжения и последующая юстировка. 5. Микроскопы РЭМП-4, МТР-6 - настройка источников питания и высоковольтных источников. 6. Микроскопы растровые "Минисэм" (Япония), "Квикскан" (Япония) - настройка и юстировка. 7-й разряд Характеристика работ. Юстировка и настройка цветных дисплейных комплексов с подбором, корректировкой и измерением параметров отклоняющей системы; изменение распределения магнитного поля в кинескопе на основе анализа деформации электронных триад. Измерение и вычисление по формулам параметров "геометрические искажения растра", координат цветности свечения экрана, яркостных характеристик комплекса. Работа с испытательным оборудованием, колориметром, яркомером, контрастомером. Должен знать: методы определения последовательности процессов испытания дисплейных комплексов; правила вычисления электрических параметров и светотехнических характеристик при помощи формул, таблиц, графиков, монограмм. Требуется среднее профессиональное образование.